Optik o'tkazuvchanlik - Optical conductivity

The optik o'tkazuvchanlik bilan bog'laydigan moddiy mulkdir joriy zichligi elektr maydoni umumiy uchun chastotalar. Shu ma'noda, bu chiziqli javob funktsiyasi ning umumlashtirilishi elektr o'tkazuvchanligi, odatda statik chegarada, ya'ni vaqtga bog'liq bo'lmagan (yoki etarlicha sekin o'zgarib turadigan) elektr maydoni uchun hisobga olinadi. Statik elektr o'tkazuvchanligi juda oz bo'lsa-da izolyatorlar (kabi Olmos yoki Chinni ), optik o'tkazuvchanlik har doim ham ba'zi chastota oralig'ida cheklangan bo'lib qoladi (yuqorida ko'rsatilganidan yuqori) optik bo'shliq izolyatorlarga nisbatan); jami optik og'irlik haqida xulosa qilish mumkin sum qoidalari. Optik o'tkazuvchanlik bilan chambarchas bog'liq dielektrik funktsiyasi, ning umumlashtirilishi dielektrik doimiyligi o'zboshimchalik bilan chastotalarga.

Faqat eng oddiy holatda (qo'pol taneli, uzun to'lqin uzunlik chegarasi, materialning kubik simmetriyasi) bu xususiyatlarni faqat chastotaning (kompleks qiymatli) skalar funktsiyalari deb hisoblash mumkin. Keyin, elektr tokining zichligi ${ displaystyle mathbf {J}}$ (uch o'lchovli vektor), skalar optik o'tkazuvchanligi ${ displaystyle sigma}$ va elektr maydon vektori ${ displaystyle mathbf {E}}$ tenglama bilan bog'langan

${ displaystyle mathbf {J} ( omega) = sigma ( omega) mathbf {E} ( omega)}$

dielektrik funktsiyasi esa ${ displaystyle varepsilon}$ bilan bog'liq elektr siljishi elektr maydoniga:

${ displaystyle mathbf {D} ( omega) = varepsilon ( omega) mathbf {E} ( omega)}$

Yilda SI birlik, bu ikkita chiziqli javob funktsiyalari o'rtasidagi quyidagi aloqani nazarda tutadi:

${ displaystyle varepsilon ( omega) = varepsilon _ {0} + { frac {i sigma ( omega)} { omega}}}$,

qayerda ${ displaystyle varepsilon _ {0}}$ bo'ladi vakuum o'tkazuvchanligi va ${ displaystyle i}$ belgisini bildiradi xayoliy birlik.

Optik o'tkazuvchanlik ko'pincha orqali optik chastota diapazonlarida o'lchanadi aks ettirish odatdagi insidansda parlatilgan namunalar (a bilan birgalikda Kramers-Kronig tahlili ) yoki o'zgaruvchan tushish burchaklaridan foydalangan holda. Yupqa bo'laklarda tayyorlanadigan namunalar uchun odatda yuqori aniqlik optik uzatish tajribalari yordamida olinadi. Qiziqadigan materialning elektron xususiyatlari to'g'risida to'liqroq ma'lumot olish uchun bunday o'lchovlarni qolgan chastota diapazonlarida ishlaydigan boshqa texnikalar bilan birlashtirish kerak, masalan, statik chegarada yoki mikroto'lqinli pech chastotalar.

Tashqi havolalar

• Ma'ruza matnlari Qattiq jismlarning optik xususiyatlari E. Y. Tsymbal tomonidan

Ushbu texnologiya bilan bog'liq maqola a naycha. Siz Vikipediyaga yordam berishingiz mumkin uni kengaytirish.